10 mHz 至 200 kHz 范围
<-100 dBc 失真(至 20 kHz)
正弦波、方波、白噪声和粉红噪声
20 μVpp 至 40 Vpp 输出范围
线性和对数扫描
25 ppm 频率精度
10 MHz 基准输入
平衡和非平衡输出
RS-232 和 GPIB

斯坦福函数发生器 DS360 — 200 kHz 低失真发生器

产品详情

技术资料下载:DS360数据手册                      DS360使用手册

DS360 低失真函数发生器

低失真模拟信号源的性能和直接数字频率合成(DDS)的精度在DS360中得到了结合。DS0的总谐波失真(THD)小于001.25%,频率精度为360 ppm,具有扫描和突发等多种特性,是音频应用的理想来源。

超低失真

与传统的RC振荡器不同,DS360采用数字信号处理和精密20位数模转换器,在音频频率范围内提供优于-100 dB的失真。DS360采用DDS架构,具有现代合成函数发生器的特性和灵活性。精心的屏蔽和电路板布局将输出噪声降至最低,使DS360成为音频研发、制造和自动化测试的首选仪器。

频率稳定性

低失真模拟源具有令人印象深刻的THD规格,但频率精度和分辨率较差。DS360在整个频率范围内提供0.0025%的频率精度。它具有 6 mHz 至 1 kHz 的 200 位频率分辨率和稳定的 25 ppm 频率稳定性。您实际上可以从前面板拨入 123,456 Hz,并让它有意义!

波形

 

 

DS360 THD+N 与频率的关系

DS360产生干净的正弦波和方波,以及用于IMD测试的双音信号。双音信号定义为两个正弦波,或正弦波和方波。两个波的频率和幅度都是独立设置的,允许生成标准的双音格式,如 SMPTE、DIM 和 CCIF。除标准波形外,DS360还输出白噪声、粉红噪声和带限白噪声。

音频输出

所有功能和参数都可以使用前面板键盘和旋钮轻松设置。可以选择多种振幅单位,包括Vrms,Vpp,dBV,dBm和dBrel。前面板输出包括 XLR、BNC 和双香蕉插孔,确保与任何系统兼容。输出可配置为平衡或非平衡,幅度为 20.0 μVpp 至 80.0 Vpp(平衡)和 10.0 μVpp 至 40.0 Vpp(非平衡)。还提供机箱接地和输出通用香蕉插孔。

扫描和连拍

与单频模拟源不同,DS360在整个频率范围内产生低失真频率扫描。线性和对数扫描设置在 10 mHz 和 200 kHz 之间,扫描时间在 0.3 ms 和 100 s 之间。扫描可以是单次扫描或重复扫描,仪器可以上下扫描频率。DS360在频率扫描期间提供出色的幅度平坦度(0 kHz时为5.20%),并具有TTL电平扫描标记输出,用于同步外部设备。

DS360还可以产生正弦波和方波的音调突发。ON周期数、重复频率和OFF幅度水平都可以调整。扫描和突发可以从内部速率发生器或外部触发触发,也可以从外部选通。

计算机控制

DS360 专为台式使用和自动化测试而设计。DS488具有标准的IEEE-2.232(GPIB)和RS-360接口,完全可通过计算机编程,这在低失真信号源中很少见。所有仪器功能都可以通过计算机界面进行控制或查询。

 

 

 

DS360规格

正弦

谐波失真 (1 Vrms unbal., 2 Vrms bal.)
(<5 千赫) -110 分贝(典型值),-106 分贝(最大值)
(5 至 20 kHz) -104 分贝(典型值),-98 分贝(最大值)
(20 至 40 kHz) -100 分贝(典型值),-96 分贝(最大值)
(40 至 100 kHz) -90 分贝(典型值),-85 分贝(最大值)
(100 至 200 kHz) -76 分贝(典型值),-68 分贝(最大值)
谐波失真 (10 Vrms unbal., 20 Vrms bal.)
(<5.0 千赫) -109 分贝(典型值),-105 分贝(最大值)
(5 至 20 kHz) -103 分贝(典型值),-98 分贝(最大值)
(20 至 40 kHz) -98 分贝(典型值),-93 分贝(最大值)
(40 至 100 kHz) -88 分贝(典型值),-83 分贝(最大值)
(100 至 200 kHz) -76 分贝(典型值),-68 分贝(最大值)

广场

频率范围 0.01 赫兹至 200 千赫
上升时间 1.3 微秒
偶次谐波 < -60 dBc(至 20 kHz)

白噪声

带宽 直流至 200 kHz
平整 度 <1.0 分贝,1 赫兹至 100 千赫
波峰因数 11分贝

粉红噪声

带宽 10 赫兹至 200 千赫
平整 度 < 3.0 dB,20 Hz 至 20 kHz(使用 1/3 倍频程分析测量)
波峰因数 12分贝

带宽受限噪声

带宽 100赫兹, 200赫兹, 400赫兹, 800赫兹, 1.6千赫, 3.2千赫, 6.4千赫, 12.8千赫, 25.6千赫, 51.2千赫, 102.4千赫
中心频率 0 Hz 至 200.0 kHz(200 Hz 增量)
平整度(带内) <1.0分贝
波峰因数
基带 12 dB(0 Hz 中心频率)
非基带 15分贝

双音

类型 正弦正弦、正弦平方
正弦频率 0.01 赫兹至 200 千赫
方形频率 0.1 赫兹至 5 千赫
方形分辨率 2 位数字
SFDR >90分贝

正弦波或方波突发

循环 1/2, 1 至 65534 次循环
重复率 1 至 65535 次循环
触发 内部、外部、单次、外部门控
离级 0.0 % 至 100.0 % (水平)
关闭分辨率 0.1 %
最大关断衰减 -90 分贝 (1 千赫) -70 分贝 (10 千赫) -50 分贝 (100 千赫)
 

白噪声或粉红噪声突发

准时 10 μs 至 599.9 s
重复时间 20 μs 至 600 s
触发 内部、外部、单次、外部门控
离级 0.0 % 至 100.0 % (水平)
分辨率 0.1 %

正弦或平方扫描

类型 线性或对数
范围 0.01 赫兹至 200.000 千赫
0.1 赫兹至 3.1 千赫
分辨率 2 位数字
平整 度 ±0.1分贝 (1%)

频率

分辨率 6 位或 10 mHz(以较大者为准)
准确性 25 ppm (0.0025 %) + 4 mHz(20 °C 至 40 °C)
   
   
   

波幅

不平衡输出 5.0 μVpp 至 14.4 Vpp(50 Ω负载) 5.0 μVpp 至 20.0 Vpp(600 Ω负载) 10.0 μVpp 至 40.0 Vpp(高阻负载)
 
平衡输出 10 μVpp 至 28.8 Vpp(50 Ω负载) 10 μVpp 至 28.8 Vpp(150 Ω负载) 10 μVpp 至 40.0 Vpp(600 Ω负载) 20 μVpp 至 80.0 Vpp(高阻负载)

 
分辨率 4 位或 1 μV,以较大者为准(Vpp 或
Vrms),0.1 dB(dBm 或 dBV)
准确性
正弦波、方波、2 音 ±0.1分贝 (1%)
白噪声 ±0.175分贝 (2%)
粉红噪声 ±0.35分贝 (4%)

宽带噪声

1 kHz正弦波至高阻抗负载(>1 kΩ)
 
<12.6 毫伏
12.6 毫伏 至 126 毫伏 126 毫伏 至 1.26 伏
1.26 伏/伏 至 10 伏

10 伏 至 40 伏
<4 nV/√Hz
<7.5 nV/√Hz
<15 nV/√Hz
<100 nV/√Hz
<500 nV/√Hz

抵消

不平衡输出 0 至 ±7.4 VDC(50 Ω 负载) 0 至 ±10.0 VDC(600 Ω 负载) 0 至 ±20.0 VDC(高阻负载)
 
平衡输出 不活动
分辨率 3 位数字
准确性 (粉红噪声除外) 1 % ± 25 mV (Vp+失调 > 0.63 V) 1 % ± 2.5 mV (0.63 V > Vp+失调 > 0.063 V) 1 % ± 250 μV (63 mV > Vp+失调 > 6.3 mV) 1 % ± 50 μV (Vp+失调 < 6.3 mV) (粉红噪声) 1 % ± 200 mV (Vp+失调 > 0.63 V) 1 % ± 20 mV (0.63 V > Vp+失调 > 0.063 V) 1 % ± 2 mV (63 mV > Vp+失调 > 6.3 mV)
1 % ± 200 μV(Vp+失调< 6.3 mV)

输出

配置 平衡和不平衡
连接 浮动 BNC、香蕉插头和 XLR 插孔
源阻抗
平衡 50 Ω ± 3 % 150 Ω± 2 % 600 Ω ± 1 %


高阻 (50 Ω ± 3 %)
失衡 50 Ω ± 3 % 600 Ω ± 1 %

高阻 (25 Ω ± 1 Ω)
浮动电压 ±40 VDC(最大)

10 MHz 基准输入(选项 03)

要求 正弦波或 TTL,0.4 至 7 Vpp,10 MHz ± 50 ppm
稳定性
内部 ±25 页/分钟
外部 与外部参考的稳定性相同)
指标 检测到外部基准,锁定

其他输出

同步 TTL电平(与输出的频率和相位相同)
爆发 TTL 脉冲标记突发(导通时间时 TTL 高)
触发/门输入 TTL 脉冲开始扫描或突发 TTL 高电平激活门控突发
TTL 脉冲标记扫描开始

常规

计算机接口 GPIB 和 RS-232。可以控制所有仪器功能。
大小 17“ × 3.5” × 16.25“ (WHL)
重量 17磅
权力 50 瓦,100/120/220/240 伏交流电,50/60 赫兹
保证 一年的零件和人工材料和工艺缺陷